产品功能：
多通道同时测试；
大触摸屏进行实时显示；
单通道，双通道，多通道同时测量功能；
通过网口直接输出比对结果给计算机。
产品特点：
高度集成，精度高；
稳定性好，性能可靠；
液晶显示面板，简洁、直观。
典型应用：
时间相关单光子计数，精密时间检测，时间分辨荧光与发光光谱
单分子测量(SMD)，鬼成像技术（Ghost imaging）
光电器件的时间响应特性，飞行时间(ToF)测量
扩散光学分子成像，光学断层扫描，扩散光学层析
广泛应用于量子纠缠态符合计数、荧光寿命成像（FLIM），高精度激光雷达等领域。
技术指标
输入信号 | 被测信号 | 路数 | 1/2/8/16/24/32/40/56/64/(定制) |
电平 | LVTTL |
zui小脉冲宽度 | 20ns(可选1.5ns) |
zui大量程 | 2.5us@50ps（可选65us或者更大） |
饱和计数 | 1 Mcps(可选20MHz) |
物理接口 | SMA(BNC) |
输出信号 | 恒温晶振 | 路数 | 1路 |
频率 | 10MHz |
波形 | 正弦 |
准确度 | ≤1×10-7 |
网口 | 路数 | 1路 |
串口格式 | 测量结果及设置状态 |
物理接口 | RJ45 |
环境特性 | 工作温度 | 0℃～＋50℃ |
相对湿度 | ≤90%（40℃） |
存储温度 | -30℃～＋70℃ |
供电电源 | 交流 220V±10%， 50Hz±5%，功率小于75W |
机箱尺寸 | 3U，19″标准机箱（上机架）482mm（宽）x300（深）x150mm（高） |
主要应用：
时间分辨荧光与发光光谱
荧光寿命成像（FLIM）
单分子测量(SMD)，单分子光谱(SMS)
光电器件的时间响应特性
飞行时间测量
扩散光学分子成像，光学断层扫描，扩散光学层析
